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光譜橢偏儀是一種用于探測薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)以及材料微結(jié)構(gòu)的光學(xué)測量設(shè)備。由于與樣品非接觸，對樣品沒有破壞且不需要真空，使得橢偏儀成為一種吸引力的測量設(shè)備。
更新時(shí)間：2024-10-08
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
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